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      布魯克摩擦磨損試驗機TriboLab
      ? UMT TriboLab 是Bruker公司新一代的通用性摩擦磨損試驗機。UMT系列產品成熟穩定,廣受用戶好評,服務于全球一流大學、研究所和行業領導者,已成為全球摩擦、磨損、機械性能測試實驗室的標準儀器。目前,中國裝機量有200臺,全球裝機量有1000臺,發表論文1000篇。 ? UMT TriboLab 是Bruker公司新一代的通用性摩擦磨損試驗機。UMT系列產品成熟穩定,廣受用戶好評,服務于全球一流大學、研究所和行業領導者,已成為全球摩擦、磨損、機械性能測試實驗室的標準儀器。目前,中國裝機量有200臺,全球裝機量有1000臺,發表論文1000篇。UMT TriboLab的技術優勢: ? 1.?? ?杰出的穩定性和精準度,提供準確可靠的數據 a)?? ?可測量低于0.004摩擦系數 ? ? b)?? ?高數據重復性 劃痕試驗測量涂層結合力 ? c) ?可迅速生成Stribeck曲線,全面評價油品性能 ? ? 2.杰出的模塊化設計,最大的通用性 UMT TriboLab 具有杰出的模塊化設計,提供4個運動驅動和12個環境腔,一臺設備可以完成數百個不同的摩擦/磨損/壓痕/劃痕測試,并符合ASTM, ISO和DIN測試標準。大多數摩擦學測試儀器是單一功能的試驗機,完成這些測試,需多臺儀器。 a) ?4個運動驅動: 摩擦/磨損/壓痕/劃痕測試具有不同的運動模式。UMT TriboLab提供4個運動驅動和多種運動模式。 ? 1.旋轉驅動 專為球盤、銷盤、盤盤摩擦磨損試驗設計,轉速從0.1到5000 rpm,扭矩可達5Nm,滿足ASTM測試標準,如ASTM G99,ASTM G132,ASTM D3702 2.往復驅動 專為球板、銷板、環套摩擦磨損試驗設計,往復頻率可達60Hz,行程和頻率:20Hz @25mm,40Hz@12.5mm, 60Hz@2mm,滿足ASTM測試標準,如ASTM G119,ASTM G203, ASTM G204,ASTM 206 3.環塊驅動 專為環塊摩擦磨損試驗設計,轉速從0.1到5000 rpm,扭矩可達5Nm,滿足ASTM測試標準,如ASTM G77, ASTM D3704, ASTM D2981 4.線性驅動 專為劃痕、壓痕和低速摩擦磨損試驗設計,速度可從0.002毫米/秒到10毫米/秒,行程可達120毫米,可做劃痕試驗測量涂層結合力,壓痕試驗測量材料硬度和模量,滿足ASTM測試標準,如ASTM G174,ASTM G133等 ? ? b)12個環境腔 摩擦/磨損/壓痕/劃痕測試需要在實際工況下進行。UMT TriboLab 提供12個環境腔(潤滑,高溫,低溫,濕度,腐蝕,真空)來模擬實際工況。用戶可根據自己的需要,選擇合適的環境腔,模擬實際工況。這些環境腔是可以互換的,給用戶提供最大的靈活性。 ? 旋轉驅動環境腔 往復驅動環境腔 環塊驅動環境腔 1.液池:潤滑環境 1.液池:潤滑環境 1.150C溫度/濕度腔: ?室溫-150C或5-85%濕度 2.400C 溫度腔:室溫 - 400C 2.400C 溫度腔: 室溫 - 400C ? 3.1000C溫度腔:室溫 - 1000C 3.1000C溫度腔:室溫 - 1000C ? 4.低溫腔:-25C - 室溫 4.低溫腔:-25C - 室溫 ? 5.濕度腔: 5-85% 濕度 5.電化學腐蝕腔腐蝕環境 ? 6.真空腔:10-5托真空度 ? ? ? 3.杰出的易用性 a) 獨有的自識別功能TriboID和人性化設計,模塊更換1-3分鐘內完成,簡單快捷。 b) 控制板安裝于試驗機主機中,不在計算機中。試驗機主機與計算機只通過一根USB線連接。計算機可隨時更換,消除因計算機損壞卻不能更換導致試驗機報廢的可能性 ? ? 4.多種傳感器 a) 11個高靈敏二維力學傳感器:1mN - 2000N測量范圍 b) 聲發射傳感器 c) 接觸電阻傳感器 d) 微位移傳感器 ?
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      布魯克原子力顯微鏡MultiMode8
      高分辨成像的業界標桿 應用靈活性,高水平論文的發表 ·? 高分辨率成像和定量的材料性能成像。 ·? 提供多模塊功能的MultiMode ·? 發表論文AFM ·? 峰值力模式實現 ? ? ? ?MultiMode是受歡迎的掃描探針顯微鏡,得到客戶的高度,迄今為止數以萬計的MultiMode?掃描探針顯微鏡已經在成功安裝使用。其世屆的分辨率,儀器性能,以及得到充分驗證的數據,奠定了其在AFM領域的領導地位。 定量成像模式 ·? Bruker專li的新型成像模式PeakForce QNM,可以對材料納米尺度的力學性質進行定量檢測,在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統的相位成像和某些廠家的多頻技術不同的是,使用PeakforceQNM模式可獲得、定量的實驗數據。 ·? PeakForce TUNA模塊,能夠定量測量樣品的導電特性,這是傳統的導電模式所不能實現的。 ·? 推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實現快速掃描模式。與傳統的AFM相比,在其速度高6倍時仍不損失圖像分辨率,獲得分辨的AFM圖像。掃描速度,可比傳統的AFM高20倍。 具有高的分辨率和測試性能 ·? 迄今為止,利用MultiMode系列原子力顯微鏡,已發表大量高水平論文,幫助科學家們解決了 ·? 諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計,即使樣品的測試難度大,測試條件極為苛刻,也能實現低系統噪音,獲得分辨率的圖像。 ·? NanoScope?V控制器提供業界系統噪音和帶寬,大大高了數據分析能力,適用于更多的研究領域。 ·? Bruker的Peak Force Tapping? 技術,控制針尖與樣品的作用力,可遠低于TappingMode所需要的力。 適用于各研究領域 ·? 大氣或者溶液環境中,MultiMode8都能夠完成樣品檢測,以其分辨率和功能,被廣泛應用于物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個領域。 ·? 在MultiMode8上可選配溫度調節和環境控制附件。加熱到250°C,冷卻至-35°C,或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中,都可以實現敏感樣品的檢測和成像。 ·? MultiMode8基本操作模式的基礎上選配不同功能的附件,可在高分辨成像的同時,獲得樣品的力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標
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      布魯克納米紅外光譜nanoIR3
      Bruker 公司的Anasys nanoIR3型納米紅外光譜測量系統,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用獨有專利的光熱誘導共振技術(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。下面是nanoIR3的技術優勢:
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      布魯克原子力顯微鏡Dimension ICON
      ? ? ?? Dimension ICON原子力顯微鏡是Bruker 公司原子力顯微鏡系列中的旗艦產品。在2010年推出后,受到廣大用戶的好評。在國內目前也已經銷售了近300臺。此儀器具有非常多的其他原子力顯微鏡所不具備的功能。下面是Dimension ICON的技術優勢:
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      布魯克臺階儀-表面輪廓儀 Dektak XT
      德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創新,更加鞏固了其行業地位。不論應用于研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。
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      布魯克三維光學表面測量系統GT-X
      Bruker GT-X型三維光學表面測量系統是Bruker 公司三維光學顯微鏡Contour系列中的旗艦產品。具備全自動、大樣品測試能力的GT-X是目前市場上大視場、垂直分辨率最高、可定標的計量式表面測試系統。從最基本概念設計開始,GT-X就是為滿足目前最具挑戰性的測量需求,如產品研發、質量保證和工藝監控等各種苛刻要求,而打造的。
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